Тестирование ПЛИС с помощью конвейеризированных генераторов контрольных кодов

ПЛИС тестирование отбраковка окружение ПЛИС конвейеризированные функции самокорректирующиеся коды CRC код Хэмминга

Представление операторов выбора и цикла языков программирования в граф-схемах алгоритмов, К вопросу о векторизации графических спектрограмм, ...

Тестирование ПЛИС с помощью конвейеризированных генераторов контрольных кодов УДК 004.054 Тестирование ПЛИС с помощью конвейеризированных генераторов контрольных кодов О.М. Брехов, М.О. Ратников Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), Москва, 125993, Россия Предложен подход к решению задач исследования характеристик ПЛИС и тестирования систем, использующих ПЛИС, на ранних этапах разработки посредством универсальных тестовых прошивок на основе конвейеризированных генераторов контрольных кодов. <...> Разработаны тестовые прошивки: на основе CRC (для выявления одиночных и множественных сбоев или отказов) и на основе кода Хэмминга (для выявления места сбоя или отказа). <...> Существующие подходы не гарантируют выявления множественных сбоев, не позволяют точно обнаруживать место сбоя и не отвечают требованиям масштабируемости. <...> Кроме того, они требуют создания отдельной прошивки для каждого этапа разработки. <...> В данной статье предлагается новый подход к созданию тестовой прошивки, основанный на реализации конвейеризированного генератора контрольных кодов, который позволяет выявлять множественные сбои (или отказы), а также определять место их возникновения. <...> Тестовая прошивка — прошивка, полученная из тестового функционального описания и предназначенная для выполнения только определенного теста или группы тестов. <...> Целевая прошивка — прошивка, полученная из целевого функционального описания и предназначенная для обеспечения выполнения всех требований, перечисленных в техническом задании на разрабатываемую систему. <...> О.М. Брехов, М.О. Ратников Введем также понятие входного вектора — множество двоичных значений, установленных на входы тестовой системы в данный момент. <...> Существующие подходы, описанные в [3] и [4], обладают следующими недостатками: • не гарантируют выявления одиночных и многократных сбоев; • не обеспечивают точного выявления места возникновения <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт