Выбор оптимальных режимов измерений в сканирующей электропроводящей микроскопииЧаплыгин Ю.А.,Лемешко С.В.,Сагунова И.В.,Шевяков В.И.
|
|
МИЭТу – 50!Чаплыгин Ю.А.
|
|
Образовательная технология подготовки и переподготовки кадров по заказам предприятийЧаплыгин Ю.А.,Путря М.Г.,Крупкина Т.Ю.
|
|
Моделирование характеристик и оптимизация конструктивно-технологических параметров интегральных магниточувствительных элементов в составе микро- и наносистемЧаплыгин Ю.А.,Козлова В.,Крупкина Т.Ю.,Красюков А.Ю.
|
|
Приборно-технологическое моделирование элементов интегральной электроники с повышенной стойкостью к внешним воздействиямЧаплыгин Ю.А.,Крупкина Т.Ю.,Красюков А.Ю.,Артамонова Е.А.
|