Используя метод теории функционала электронной плотности, исследовалась стабильность алмазных пленок с кристаллографической ориентацией поверхности (111) и (110). Получена фазовая диаграмма перехода многослойного графена в алмазную пленку в зависимости от толщины и типа поверхности (чистая/гидрированная). Показано, что химически индуцированный фазовый переход кардинально меняет процесс фазового перехода структуры многослойного графена в алмазную пленку. Впервые была изучена атомная структура, стабильность и построена фазовая диаграмма для алмазных пленок с кристаллографической ориентацией поверхности (110).