В статье отражены результаты исследований влияния температуры и времени выдержки на параметры образовавшегося неалмазного углерода прямым методом высокотемпературной дифрактометрии. В результате проведенных экспериментов было установлено образование хорошо упорядоченного графита для алмазов марок АСМ 60/40, АМ 14/10 и наноалмаза. Сделано предположение, что образование хорошо структурированного графита происходит за счет эпитаксиального воздействия подложки (алмаз).