РУсскоязычный Архив Электронных СТатей периодических изданий
Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки/2007/№ 1/
В наличии за
40 руб.
Купить
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:

Качественные критерии для кривых и поверхностей 3-мерных одулярных галилеевых пространств. 2. Критерии для поверхностей

Одулярные галилеевы геометрии строятся в схеме Г. Вейля. Среди них имеются коммутативные и некоммутативные геометрии. Основы дифференциальной галилеевой геометрии с 3-мерными разрешимыми одулями Ли, возникшей более 20 лет назад, позволили получить качественные критерии принадлежности кривых и поверхностей тому или иному одулярному пространству. Критерии для кривых приведены в первой части настоящей работы, опубликованной в предыдущем номере журнала. Ниже даны критерии для поверхностей. Один из критериев: полная кривизна поверхности относится к ее внутренней геометрии, если и только если поверхность лежит в классическом пространстве Галилея или в одулярном пространстве с растраном.

Авторы
Тэги
трехмерные одулярные галилеевы пространства одулярные пространства галилеевы пространства кривые одулярные галилеевы геометрии галилеевы геометрии одули Ли Ли одули поверхности одулярных пространств кривизна поверхностей вейлевские одулярные пространства ВО-пространства вейлевские одулярные пространства разрешимые трехмерные одули Ли Ли разрешимые трехмерные одули галилеевы нормы символы Кристоффеля Кристоффеля символы схемы Вейля Вейля схемы формулы Гаусса Гаусса формулы формулы Петерсона-Кодацци Петерсона-Кодацци формулы
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
А. И. Долгарев, И. А. Долгарев КАЧЕСТВЕННЫЕ КРИТЕРИИ ДЛЯ КРИВЫХ И ПОВЕРХНОСТЕЙ 3-МЕРНЫХ ОДУЛЯРНЫХ ГАЛИЛЕЕВЫХ ПРОСТРАНСТВ. <...> Основы дифференциальной галилеевой геометрии с 3-мерными разрешимыми одулями Ли, возникшей более 20 лет назад, позволили получить качественные критерии принадлежности кривых и поверхностей тому или иному одулярному пространству. <...> Один из критериев: полная кривизна поверхности относится к ее внутренней геометрии, если и только если поверхность лежит в классическом пространстве Галилея или в одулярном пространстве с растраном. <...> Первая часть настоящей работы [1] содержит качественные критерии принадлежности кривых одулярным галилеевым пространствам. <...> Каждое из галилеевых пространств строится в аксиоматике Г. Вейля на одном из одулей Ли, это ВО-пространства – вейлевские одулярные пространства. <...> Имеются следующие 3-мерные разрешимые действительные одули Ли: линейное пространство, растран, сибсон, диссон, осцилляторный одуль Ли [2]. <...> Функции со значениями в осцилляторном одуле Ли оказались недифференцируемы [2], поэтому ВО-пространство с осцилляторным одулем Ли не обладает дифференциальной геометрией. <...> Ниже мы приводим необходимые факты геометрии ВО-пространств из [2] и на их основе получаем некоторые качественные критерии принадлежности поверхностей различным одулярным пространствам. <...> Произвольный одуль Ли обозначается , одуляры обозначаются Имеются названия и для одуляров частных видов: векторы, расты и т.д. <...> В частности для одуляров с галилеевой нормой не выполняется неравенство треугольника. <...> Вместо ( )t , ),( vu пишем , для каждого одуля Ли используются свои обозначения функции. <...> . Одуль Ли называется одулем ВО-пространства W. ства заменяется одулем Ли , получается ВО-пространство – вейлевское одулярное пространство. <...> Если = 3P – однородный растран, то ЕМ-пространство обозначается М М1, 1 , пространство с v -растраном обозначается М3 3 обозначается D3 . <...> Пространство с нормированным <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы: