МНОГОПРОХОДОВЫЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЗАИМНОГО СМЕЩЕНИЯ ПЕРЕКРЫВАЮЩИХСЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ НАНОЧАСТИЦ

Работа посвящена методам выделения особых точек изображения и определения взаимного сдвига двух перекрывающихся изображений. Описан процесс применения базисных функций для перекодирования изображений в представление, определяющее степень схожести фрагмента изображения и базисной функции. Показано, что обработка изображений различными базисными функциями и последующая фильтрация результатов позволяет повысить точность определения взаимного смещения изображений.

• ГУЛЯЕВ П.В.
• ТЮРИКОВ А.В.
• ШЕЛКОВНИКОВ Е.Ю.
• КИРИЛЛОВ А.И.

• Искусство. Декоративно-прикладное искусство. Фотография. Музыка. Игры. Спорт

• Технические науки. Промышленность
• Естественные науки
• Физико-математические науки