Исследование коэффициента пропускания оптических фильтров на основе многослойных диэлектрических покрытий и фотонных кристаллов

оптические фильтры коэффициенты пропускания диэлектрические покрытия многослойные диэлектрические покрытия фотонные кристаллы светофильтры наносферы двуокись кремния электродинамические вероятностные модели вероятностные модели

Планировщик задач с аппаратной поддержкой для многопроцессорных систем, Использование технологии виртуальных приборов для определения частотных характеристик элементов и устройств систем управления, ...

О. А. Голованов, В. Я. Савицкий, А. Д. Пимкин ИССЛЕДОВАНИЕ КОЭФФИЦИЕНТА ПРОПУСКАНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ФИЛЬТРОВ НА ОСНОВЕ МНОГОСЛОЙНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ И ФОТОННЫХ КРИСТАЛЛОВ Аннотация. <...> Предложены трехмерные электродинамические вероятностные модели оптических фильтров на основе многослойных диэлектрических покрытий и на основе фотонных кристаллов. <...> Проведено сравнение результатов расчета спектральной зависимости коэффициента пропускания двенадцатислойного отрезающего светофильтра α -Si/SiO2 с экспериментальными данными. <...> Исследовано влияние дефектов структуры упаковок наносфер на характеристики оптического фильтра. <...> Установлены предельные значения погрешностей изготовления наноэлементов: высот неровностей слоев диэлектрических покрытий и диаметров наносфер двуокиси кремния. <...> В настоящее время математическое моделирование многослойных диэлектрических покрытий проводится на основе метода лучевой теории. <...> Анализ отечественной и зарубежной научной литературы показывает, что к перспективным структурам класса 3D-фотонных кристаллов относятся опаловые матрицы из кубических упаковок наносфер двуокиси 160 1 (21), 2012 Технические науки. <...> Опаловые матрицы характеризуются возможностью изменения диаметров наносфер в широком диапазоне, возможностью получения массивных образцов и сравнительно простой технологией изготовления. <...> Существующие коммерческие пакеты моделирования Comsol Multiphysics (используется метод конечных элементов для решения уравнений Максвелла), RSOFT Fullwave (использует метод конечных разностей) позволяют проводить расчет зон пропускания и непропускания фотонного кристалла, но не пригодны для расчета коэффициентов отражения и пропускания оптических фильтров. <...> Цель данных исследований состояла в разработке декомпозионного подхода к математическому моделированию оптических фильтров на электродинамическом уровне строгости, учитывающему рассеяния электромагнитных волн на неоднородностях <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт