Представлены результаты работ по возможности создания измерителя вибраций на современной элементной базе. Описывается интерферометрический метод определения смещения поверхности для случаев фиксированного направления движения объекта. Основой метода является использование интерферометрической схемы, чувствительной к расстоянию до объекта, на основе интерферометра Майкельсона. Приводится квадратурный интерферометрический сигнал, получаемый при помощи модуляции тока накачки лазера и последующей фильтрацией сигнала, получаемого на фотоприемнике. Рассмотрен случай использования квадратурного сигнала при тональных вибрациях объекта. В результате проведения измерений и обработки полученных данных восстановлены сигналы смещения поверхности исследуемого объекта для режима вибраций с заданной частотой и амплитудой. Частота колебаний поверхности соответствует частоте сигнала генератора (30 Гц), амплитуда в исследуемой точке оказалась равной 4 ± 0,05 мкм. В режиме отсутствия подачи сигнала на объект определена амплитуда случайных смещений, которая составила 0,3 мкм. Выявлено, что макет измерителя вибраций на основе оптоволоконных компонент может регистрировать квадратурный интерферометрический сигнал и восстанавливать смещение поверхности вибрирующих объектов. Сделан вывод о перспективности дальнейшего исследования макета, улучшения его точностных характеристик и доведения до экспериментального образца.