Об особенностях фотометрирования с различными оптическими системами
Приводятся результаты измерений зависимостей коэффициента отклонения от закона обратного квадрата расстояния для таких осветительных средств как светодиоды и светодиоды со вторичной линзовой и отражательной оптикой.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Краткие сообщения
Исследования по светодиодам
с различными оптическими системами <...> Э. М. ГУТЦАЙТ, А. М. СИДОРОВ
Московский энергетический институт (ТУ)
Поскольку в ближней зоне излучения
осветительного средства (ОС)
не выполняется закон обратного квадрата
расстояния (ЗОКР), то в слутчае
такого ОС с симметричным свеIовым
пучком и осевой силой света
сти оo формулу для расчёта освещеннот
в виде
т него на любом расстоянии r на
ю оси светового пучка (Е) представляE
= K·Io/r2,
где К – коэффициент отклонения от
r ЗОКР для данного ОС, зависящий от
, достигающий 1 в дальней зоне излучения
ОС и могущий быть больше
или меньше 1 (смотря, в какую
сторону – «линейную» или «кубиче1
E-mail: edgut@migmail.ru
Полный текст статьи депонирован
в редакции
скую» – имеет место отклонение от
ЗОКР). <...> ре С учётом этого, ниже приводятся
«ОПТЭЛ» серий У-200, У-270, У-345,
У-360, а также СД NSPWR70 SS фирмы
Nichia Corp., светодиодный модуль
СДКБ4619 (с 16-ю СД) фирмы
«Акол» и др.
г Для измерений Е от СД иноТКА-01/3,
ода использовался люксметр типа
тной чувствительности и невысокой
льзовался приемник излучеднако
из-за недостаточло,
испоочности вместо него, как правищния
на фотодиоде ФД288 В, имеюстью
не более 10 % примеК
зультаты измерений зависимостей
–8–10–4) А. <...> Относительными измерениями
каем линейную зависимость фотото(10
(Iф) от освещённости в диапазоне
ды (СД) и СД со вторичной линзовой
и отражательной оптикой. <...> Среди объектов измерений имелись
СД с различными первичными
полимерными линзами – сферическими
и эллипсоидными, френелевскими
и коническими кругового
действия, причём часть СД дополнялась
сменными коллиматорными
ж и рассеивающими линзами, а такбыли
мощные Се отражателями. <...> При
этом многопредельным микроамперметром
Ф-195 измерялись Iф при разIличных
r и строились зависимости
на пофr2 (r), которые при r r0,1 выходили
ющиестоянные уровни, соответствуОпре
K= 1 0,1.
делённые по этим зависимостям
значения r0,1 для некоторых из
указанных ОС приведены в таблице. <...> Из последней <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: