Исследование деформаций и нагрева азо-полимерной пленки в лазерном луче с помощью сканирующей зондовой микроскопии
Методами атомно-силовой микроскопии исследован фотоиндуцированный перенос массы в поверхностном слое азо-полимерной пленки при освещении сфокусированным лазерным светом с длиной волны в полосе поглощения и за ее пределами. Получены раман-спектры тонких пленок (280 нм) и определен порог интенсивности возбуждающего излучения, при котором происходит деструкция образца. С помощью сканирующей тепловой микроскопии исследован фотоиндуцированный нагрев пленки, как при наличии теплового контакта со стеклянной подложкой, так и без него.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Методами атомно-силовой микроскопии исследован фотоиндуцированный перенос массы в поверхностном слое азо-полимерной пленки при освещении сфокусированным лазерным светом с длиной волны в полосе поглощения и за ее пределами. <...> Получены раман-спектры тонких пленок (280 нм) и определен порог интенсивности возбуждающего излучения, при котором происходит деструкция образца. <...> С помощью сканирующей тепловой микроскопии исследован фотоиндуцированный нагрев пленки, как при наличии теплового контакта со стеклянной подложкой, так и без него. <...> Методами атомно-силовой микроскопии исследован фотоиндуцированный перенос массы в поверхностном слое азо-полимерной пленки при освещении сфокусированным лазерным светом с длиной волны в полосе поглощения и за ее пределами. <...> Получены раман-спектры тонких пленок (280 нм) и определен порог интенсивности возбуждающего излучения, при котором происходит деструкция образца. <...> С помощью сканирующей тепловой микроскопии исследован фотоиндуцированный нагрев пленки, как при наличии теплового контакта со стеклянной подложкой, так и без него. <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: