ВОЗМОЖНОСТИ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ПО ИССЛЕДОВАНИЮ СВЕРХТОНКИХ ПОКРЫТИЙ НА ПОРИСТЫХ КРЕМНЕЗЕМАХ РАЗЛИЧНОГО ГЕНЕЗИСА

атомно-силовая микроскопия кремнезем пористость нанотехнология молекулярное наслаивание

ПОЛУЧЕНИЕ ЭКОЛОГИЧЕСКИ БЕЗОПАСНЫХ АРОМАТИЧЕСКИХ МАСЕЛ-МЯГЧИТЕЛЕЙ КАУЧУКА И РЕЗИНЫ, О РЕШЕНИИ МНОГОМЕРНЫХ РЕЛАКСАЦИОННЫХ УРАВНЕНИЙ ДИФФУЗИИ МЕТОДОМ МОНТЕ-КАРЛО, ...

УДК 539.24: (539.217.1 + 539.233) Eugene A. Sosnov, Tatyana S. Trubina, Anatoly A. Malygin THE POSSIBILITIES OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY IN STUDYING OF HYPERFINE COATINGS ON POROUS SILICAS OF DIFFERENT GENESIS St. <...> Малыгин3 ВОЗМОЖНОСТИ АТОМНОСИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ПО ИССЛЕДОВАНИЮ СВЕРХТОНКИХ ПОКРЫТИЙ НА ПОРИСТЫХ КРЕМНЕЗЕМАХ РАЗЛИЧНОГО ГЕНЕЗИСА Санкт-Петербургский государственный технологический институт (технический университет), Московский пр. <...> 26 Санкт-Петербург, 190013, Россия e-mail: sosnov@lti-gti.ru На примере силикагеля ШСКГ (имеет глобулярное строение с нерегулярной поровой структурой) и кремнезема SBA-15 (обладает регулярной структурой с порами постоянного сечения) рассмотрены возможности атомно-силовой микроскопии (АСМ) по определению морфологии поверхности кремнеземов с различной пористостью. <...> Показана возможность использования АСМ для изучения структуры материалов с регулярным расположением пор. <...> Экспериментально определена толщина титаноксидного монослоя, формируемого на поверхности кремнезема SBA-15 за 1 цикл МН (0,26 нм), что подтверждает равномерное послойное формирование титаноксидных покрытий по методу МН. <...> Keywords: atomic force microscope, silica, porosity, nanotechnology, molecular layering DOI 10.15217/issn1998984-9.2015.30.20 Прецизионные технологии химического модифицирования поверхности высокопористых носителей позволяют создавать материалы с заданными физико-химическими и эксплуатационными свойствами. <...> Однако полученные этим методом результаты могут некорректно отражать структурные изменения носителя (например, в 1 2 3 Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, кремнезем, пористость, нанотехнология, молекулярное наслаивание случае формирования на гидрофильной поверхности тонкого гидрофобного покрытия [1], либо недоступности части микропор для адсорбата [2]). <...> Использование сканирующей электронной микроскопии для исследования структуры таких объектов часто затруднено, поскольку высокопористые носители обычно являются диэлектриками и требуют специальной пробоподготовки, часто искажающей морфологию материала [3]. <...> Однако отсутствие <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт