Расчет дифракции отраженных электронов на монокристалле

Кристаллография дифракция монокристалл спектр рассеяния угол скольжения.

Некорректные задачи и многокритериальное программирование, Нелинейная система управления схождением колес автомобиля, ...

УДК 535.33 Расчет дифракции отраженных электронов на монокристалле И. <...> А.В. Шубникова РАН НИЦ «Космическое материаловедение», Калуга, 248033, Россия 2МГТУ им. <...> Н.Э. Баумана, Калужский филиал, Калуга, 248000, Россия В статье приведены результаты применения математического моделирования для одного из основных методов исследования физико-химических свойств поверхности твердого тела дифракции электронов. <...> Рассматриваемая работа позволяет прогнозировать процессы дифракции отраженных электронов на поверхности монокристалла при задаваемых параметрах исследуемого процесса. <...> Полученные результаты моделирования дифракционных процессов могут быть использованы в качестве наглядного иллюстративного материала при изучении электронографии. <...> В конце прошлого века произошел резкий скачок методического уровня проведения исследований локального состава, структуры и физико-химических свойств поверхности твердого тела [1, 2]. <...> С появлением и развитием техники сверхвысокого вакуума появилась возможность для реального развития таких методов исследования поверхности, как дифракция медленных электронов и полевая эмиссия [24]. <...> Стало ясно, что именно успехи в изучении автоэлектронной эмиссии, дифракции электронов, в совершенствовании техники сверхвысокого вакуума и детектирования малых сигналов (наряду с открытием эффекта Оже), а также рентген электронной эмиссии привели к созданию принципиально новых методов исследования поверхности твердых тел [5, 6]. <...> И.Ж. Безбах, Б.И. Мясников, И.Н. Радченко Одним из основополагающих явлений, описываемых квантовой механикой, является универсальный корпускулярно-волновой дуализм материи. <...> Использование моделирования физических процессов, объясняемых, в частности, наличием волновых свойств микрочастиц, даст возможность повысить наглядность изучаемых явлений, а также значительно упростить расчеты исследуемых параметров и характеристик. <...> Ek mc определяется ускоряющим напряжением <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт