Исследование структурных свойств нормальных и светосильных широкоугольных проекционных объективов

проекционный объектив реверсивный телеобъектив структурная схема аберрационный анализ суммы Зейделя

Проблемы создания стереоскопических объективов для видеоэндоскопов, Метод контроля качества выпуклого гиперболического зеркала радиотелескопа космической обсерватории «Миллиметрон», ...

Исследование структурных свойств нормальных и светосильных широкоугольных … <...> УДК 535.317 Исследование структурных свойств нормальных и светосильных широкоугольных проекционных объективов Т.С. Ровенская, Е.О. Ламкина МГТУ им. <...> Эти объективы по значениям относительного отверстия относятся к нормальным или светосильным объективам, а по значениям углового поля в пространстве предметов — к широкоугольным объективам или к объективам с нормальным значением углового поля. <...> В целях получения рекомендаций для разработки методики структурного синтеза указанного класса фотографических объективов выполнен анализ схем выбранных объективов в параксиальной области и в области аберраций третьего порядка. <...> Анализ оптических систем, представленных в современной патентной документации, показал, что в обратном ходе лучей они имеют малые значения линейного увеличения. <...> Это позволяет рассчитывать объективы в обратном ходе лучей при удаленном положении предмета (случай «предмет в бесконечности»). <...> Проекционные объективы имеют широкий спектр значений основных оптических характеристик: фокусное расстояние f ′ = 8… <...> Объективы содержат 7–15 линз в виде одиночных и склеенных элементов, включая одну или несколько асферических линз с расположением асферических поверхностей в схемах как в пространственно разнесенных наклонных пучках, так и в зонах, близких к апертурной диафрагме (зрачкам). <...> 1:3,3), по значениям углового поля в пространстве предметов — как объективы с нормальными и широкими угловыми полями (2ω 60… <...> Такие объективы являются реверсивными (обратными) телеобъективами и имеют коэффициент телереверсивности KF 1; последний равен нормированному значению отрезка S'F′: KF = S'F′ /f '. <...> 0,643 мкм), стабильное значение относительной освещенности по полю изображения, а геометрическая отрицательная дисторсия находится на уровне порядка 2 Исследование структурных свойств нормальных и светосильных широкоугольных <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт