Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов

нанотехнологии сканирующий туннельный микроскоп атомносиловой микроскоп магнитно-силовой микроскоп атомный дизайн спинтроника

К вопросу о переносимости кода и некоторых возможностях использования кроссплатформенного программного обеспечения, Метод идентификации человека по голосу, ...

УДК 539.1 Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов Е.В. Смирнов МГТУ им. <...> Подробно рассмотрены сканирующий туннельный, атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопы, указаны возможности этих приборов в развитии технологий атомного уровня — атомного дизайна, спинтроники и т. д. <...> В основе действия приборов нанотехнологии лежат квантовые явления, что предъявляет более высокие, чем прежде, требования к уровню подготовки инженерного персонала и, соответственно, к уровню овладения студентами технических университетов современной, в первую очередь, квантовой, физикой. <...> К числу этих приборов относятся сканирующий туннельный микроскоп (СТМ), атомно-силовой микроскоп (АСМ), магнитосиловой микроскоп (МСМ) и еще ряд других микроскопов. <...> Все они являются основными приборами нанотехнологий, поэтому студентам технических университетов необходимо представлять себе их возможности, а также знать те физические явления, в первую очередь, квантовые, которые лежат в основе их работы. <...> Изучение объектов нанотехнологий с их помощью основано на взаимодействии очень тонкого зонда (иглы), подводимого к исследуемой поверхности, на которой рас1 <...> В зависимости от характера взаимодействия зонда с поверхностью — протекания туннельного тока, ван-дер-ваальсовского взаимодействия молекул зонда и поверхности, взаимодействия магнитного поля зонда с магнитной структурой поверхности и т. д. — возникают изменения положения зонда при сканировании поверхности, которые фиксируются высокоточной следящей системой. <...> Высокое разрешение сканирующих зондовых микроскопов достигается при использовании пьезоэлектрических сканеров — устройств, которые с очень высокой точностью перемещают зонд над исследуемой поверхностью. <...> В основе работы этих сканеров лежит обратный пьезоэлектрический эффект, заключающийся в том, что приложение напряжения к пьезоэлектрическому образцу вызывает изменение его размеров. <...> Подача напряжения <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт