Структурная диагностика синтетических монокристаллов алмаза с высоким коэффициентом отражения рентгеновского излучения

синтетические монокристаллы алмазов жесткое рентгеновское излучение рентгеновская топография дефекты кристаллов синтетические алмазы рентгеновская оптика

Электрохимические исследования каталитических процессов химического никелирования графита 1. Окислительно-восстановительные реакции в фоновых растворах, Металлоуглеродный композиционный материал на основе алюминия, ...

С.А. Носухин*, С.А. Терентьев*, В.Д. Бланк*, *** СТРУКТУРНАЯ ДИАГНОСТИКА СИНТЕТИЧЕСКИХ МОНОКРИСТАЛЛОВ АЛМАЗА С ВЫСОКИМ КОЭФФИЦИЕНТОМ ОТРАЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ (*Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов, г. Троицк, **Московский государственный университет им. <...> М.В. Ломоносова, ***Институт спектроскопии РАН, г. Троицк) e-mail: spolyakov@phys.msu.ru Комплексный анализ высокосовершенных синтетических кристаллов алмаза, основанный на данных рентгеновской топографии, дифрактометрии высокого разрешения и оптической спектроскопии, позволил определить структурные параметры, обеспечивающие рекордное значение коэффициента брэгговского отражения для жесткого рентгеновского монохроматического излучения. <...> Ключевые слова: рентгеновская топография, дефекты кристаллов, рентгеновская оптика ВВЕДЕНИЕ С момента появления в семидесятых годах прошлого столетия идеи создания лазеров на свободных электронах сейчас трудно найти научный центр, использующий синхротронное излучение рентгеновского диапазона длин волн, который не работал бы над этой проблемой. <...> Для лазеров на свободных электронах в классической схеме ондулятора, помещенного в резонатор, требуются зеркала с коэффициентом отражения близким к 100 %. <...> Для жесткого рентгеновского излучения такой коэффициент отражения имеют только зеркала полного внешнего отражения, на которые пучок падает и отражается под малыми углами. <...> В работе [2] экспериментально показано, что структурно совершенные монокристаллы алмаза могут являться подходящим материалом для изготовления зеркал с высоким коэффициентом брэгговского отражения ( Брэгг = 89,50) для рентгеновских пучков с энергией 23,77 кэВ. <...> 4 В настоящей работе представлены результаты структурного анализа синтетических монокристаллов алмаза с минимальной концентрацией примеси азота (относящихся к типу IIa по физической классификации алмаза), выращенных методом температурного градиента <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт