Исследование процессов формирования систем двойных оксидов кремния и d-металлов
Исследованы процессы созревания пленкообразующих растворов и процессы формирования тонкопленочных и дисперсных систем SiO[2]-M[x]O[y] (где-M-Mn, Fe, Co, Ni), синтезированных по золь-гель технологии. Изучено влияние соли металла на степень гидролиза тетраэтоксисилана и вязкость пленкообразующего раствора.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
В.Ю. Бричкова, А.С. Бричков, Л.А. Егорова, А.В. Заболотская, В.К. Иванов*
ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ФОРМИРОВАНИЯ СИСТЕМ ДВОЙНЫХ ОКСИДОВ
КРЕМНИЯ И d-МЕТАЛЛОВ
(Томский государственный университет, <...> Н.С. Курнакова РАН)
e-mail: vicabri@rambler.ru, anton_br@rambler.ru, egorova_xf_tsu@mail.ru, salon7878@mail.ru,
van@igic.ras.ru
Исследованы процессы созревания пленкообразующих растворов и процессы формирования
тонкопленочных и дисперсных систем состава SiO2-MxOy (где M – Mn, Fe, Co, Ni),
синтезированных по золь-гель технологии. <...> Изучено влияние соли металла на степень гидролиза
тетраэтоксисилана и вязкость пленкообразующего раствора. <...> Установлена зависимость
оптических характеристик пленок от их состава. <...> Ключевые слова: золь-гель, ЯМР 29Si, пленки, термический анализ, пористость, показатель
преломления
ВВЕДЕНИЕ
Разработка новых перспективных материалов
с заданными функциональными свойствами
невозможна без понимания физико-химических
закономерностей их формирования. <...> Наноструктурные
системы на основе диоксида кремния и
оксидов переходных металлов представляют интерес
с точки зрения получения на их основе полифункциональных
материалов для электронной и
светотехнической промышленностей, катализаторов,
материалов для избирательной газовой адсорбции,
сенсорных устройств [1-2]. <...> Целью работы являлось получение тонких
пленок состава SiO2-MxOy (где M – Mn, Fe, Co, Ni)
из пленкообразующих растворов по золь-гель
технологии, изучение процессов формирования
наноструктурных оксидных систем, а также установление
взаимосвязи между оптическими характеристиками
тонких пленок и их составом. <...> МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
Тонкопленочные и дисперсные системы
состава SiO2-MxOy (где М – Mn, Fe, Co, Ni) с концентрацией
MxOy от 5 до 30 мас.% получали по
золь-гель технологии из пленкообразующих растворов
(ПОР) на основе тетраэтоксисилана (ТЭОС),
этилового спирта, воды и солей соответствующих
металлов на подложках из монокристаллического
кремния и кварца методом центрифугирования
с последующей ступенчатой <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: