РУсскоязычный Архив Электронных СТатей периодических изданий
Известия высших учебных заведений. Химия и химическая технология/2009/№ 4/
В наличии за
40 руб.
Купить
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:

Закономерности формирования наноразмерных систем медь-оксид меди (I)

Представлены результаты исследований процессов, протекающих в условиях атмосферы в тонких слоях меди в зависимости от толщины материала, температуры и времени теплового воздействия.

Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Фазовые равновесия в системе медно-аммиачный раствор – окись углерода – двуокись углерода. <...> IAPWS (International Association for the Properties of Water and Steam), Guideline on the Henry’s Constant and Vapor-Liquid Distribution Constant for Gases in H2O and D2O at High Temperatures // Kyoto. <...> IAPWS (International Association for the Properties of Water and Steam), Guideline on the IAPWS Formulation 2001 for the Thermodynamic Properties of Ammonia-Water Mixtures // Gaithersburg, Maryland. <...> Н.В. Борисова, Э.П. Суровой ЗАКОНОМЕРНОСТИ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ СИСТЕМ МЕДЬОКСИД МЕДИ(I) (Кемеровский государственный университет) E-mail: epsur@kemsu.ru Спектрофотометрическим, гравиметрическим и микроскопическим методами установлено, что в зависимости от первоначальной толщины пленок меди и температуры термической обработки кинетические кривые степени превращения, изменения толщины и массы образцов удовлетворительно описываются в рамках линейного, параболического или логарифмического законов. <...> Установлено, что изменения спектров поглощения, толщины и массы пленок меди связаны с формированием на их поверхности оксида меди(I). <...> В настоящей работе представлены результаты цикла исследований, направленного на выяснение природы и закономерностей процессов, протекающих в условиях атмосферы в тонких слоях меди в зависимости от толщины материала, температуры и времени теплового воздействия. <...> Образцы для исследований готовили методом термического испарения в вакууме (210-3 Па) путем нанесения тонких (3–112 нм) слоев меди на подложки из стекла, используя вакуумный универсальный пост «ВУП-5М». <...> Толщину пленок (dп) определяли спектрофотометрическим, микроскопическим и гравиметрическим методами [1, 7]. <...> Образцы подвергали термической обработке в сушильном шкафу 54 «Memmert BE 300» в интервале температур 373– 600 К в течение 1–120 мин в атмосферных условиях. <...> Регистрацию эффектов после термической обработки исследуемых образцов осуществляли гравиметрическим, микроскопическим и спектрофотометрическим (используя спектрофотометр «Shimadzu UV-1700») методами. <...> РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ В результате исследований <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы: