Адсорбция сульфат-ионов на активированных углях
В исследовании использованы угли различных марок.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
А.А. Юсупова, Н.А. Алиева
АДСОРБЦИЯ СУЛЬФАТ-ИОНОВ НА АКТИВИРОВАННЫХ УГЛЯХ
(Институт проблем геотермии Дагестанского научного центра РАН,
Аналитический центр коллективного пользования ДНЦ РАН,
Институт физики Дагестанского научного центра РАН, Дагестанский государственный университет)
e-mail: jannet49@yandex.ru; a_ramazanov@mail.dgu.ru
ДАК. <...> Изучены зависимости величин адсорбции ионов SO4
Исследован процесс сорбции сульфат-ионов на активированных углях КМ-2, БАУ,
2- от концентрации их в растворе,
температуры, времени сорбции. <...> Так, в работе [1] было показано, что в
присутствии ионов SO4
2- существенно снижается
сорбционная емкость активированного угля по
ионам CrO4 <...> Целью данной работы является исследование
адсорбции сульфат-ионов на активированных
углях различных марок. <...> Кроме того, сведения об адсорбции
сульфат-ионов на различных углеродных материалах
весьма противоречивы: от полного отсутствия
адсорбции [2], до достаточно высоких
величин их сорбции [3]. <...> Исследование адсорбции ионов SO4
2- проводилось
в специальной термостатированной
ячейке, в которую помещалось определенное количество
активированного угля и добавлялся раствор,
содержащий сульфат-ионы, смесь перемешивалась
с помощью магнитной мешалки. <...> Исходные
растворы сульфата натрия готовили в фоновом
растворе хлорида натрия (50 г/дм3), необходимую
величину рН достигали добавлением раствора
HCl. <...> Исследование количества и констант
диссоциации поверхностных групп исследуемых
углей осуществляли методом Боэма и потенциометрическим
титрованием по методу отдельных
навесок [5]. <...> Значение рН точки нулевого
заряда определялось по методике, описанной в [6],
основанной на изучении изменения рН растворов
NaNO3, HNO3 и NaOH (на фоне NaNO3 ), находящихся
в контакте с различными количествами
исследуемого угля (0,05; 0,1; 0,5; 1; 5 и 10 весовых
%). <...> Микрофографии активированных углей получены
методом сканирующей электронной микроскопии
в режиме получения изображения во вторичных
электронах на микроскопе <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: