РУАЭСТ (RUAEST)
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:
РИСКИ ОТКАЗОВ СЛОЖНЫХ ТЕХНИЧЕСКИХ СИСТЕМ
Представлен механизм образования латентных дефектов печатных плат, предложена математическая модель развития латентного дефекта в явный на основе функции риска, что позволяет определить среднее время до появления очередного дефекта электронных средств сложных технических систем. Приведена модель функции риска в виде смещенного полинома Чебышева. Доказана справедливость применения методологии расчета надежности программного обеспечения к оценке надежности сложных технических систем длительного функционирования
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
ЭФФЕКТИВНОСТЬ СИСТЕМЫ МЕНЕДЖМЕНТА КАЧЕСТВА ПРОИЗВОДСТВЕННОГО ПРЕДПРИЯТИЯ,
ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКИЙ РАСЧЕТ ПОРОГОВ НЕЛИНЕЙНОСТИ АНИЗОТРОПНЫХ НАНОСТРУКТУРНЫХ МАТЕРИАЛОВ ПО ТОЧКЛМ БИФУРКАЦИИ НЕЛИНЕЙНОГО ОПЕРАТОРА МАКСВЕЛЛА,
...
Резюме по документу**
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: