Методами растровой электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микродюрометрии исследовано взаимодействие плазмы нормального тлеющего разряда аргона с поликристаллическим порошковым вольфрамом. Показано эффективное воздействие низкоэнергетических ионов аргона как на поверхность вольфрама, так и на его объем. Размеры образовавшихся включений на поверхности достигают 10 мкм, а в объеме 5 мкм. Глубина структурных изменений достигает 120 мкм от обработанной поверхности.