 РУАЭСТ (RUAEST)
                            РУАЭСТ (RUAEST)
                        |   | Анализ средствами TCAD токов утечки 45-нм МОП транзисторной структуры с high-k диэлектрикомХаритонов И.А.,Попов Д.А.,Петросянц К.О.,Самбурский Л.М. | 
|   | Исследование влияния электронного облучения на импульсную электрическую прочность диодовХаритонов И.А.,Александрова А.Б. |